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可测试性设计
释义
可测试性设计
信息科学卷
可测试性设计
在芯片设计的时候,考虑到后续测试手段的设计方法。通常将一些特殊结构在设计阶段植入电路以便设计完成后进行测试。可减少测试时间及成本。
出处:信息科学卷 • 微电子 • 集成电路技术
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更新时间:2026/4/30 19:57:59